BJI-G型科研实验X光机是恒胜创新推出的一款业界独创的X光机设备，适用于实验室和科研机构的实验制品X光检测，如：IC半导体/集成电路检测、细小元器件/接插件检测、焊接检测、封装检测、内部结构透视检测、气孔气泡检测等。

与以往科研实验X光机相比，BJI-G的性能有了大幅跨越式的提升，它的清晰度大幅超越传统设备，分辨精度高达227线/厘米，灰度等级达到了4600级！本机是科研实验室、高校实验室、研发部门、电子制品制造商、质检部门、工厂等的首选X光检测设备。